Bruker Venture Metaljet

Avec sa source à jet de métal liquide, cet instrument fournit une très grande brillance et permet la mesure sur de très petits cristaux en des temps très rapides. On peut ainsi obtenir une première visualisation de la structure 3D complète d’une molécule en moins de dix minutes à partir de données collectées sur un cristal dont la dimension moyenne est inférieure à 0.1 mm. Premier instrument de ce type à avoir été installé, la Metaljet donne la possibilité de traiter de 2 à 6 cristaux par jours. La longueur d’onde de l’alliage à base de Gallium utilisé pour l’anode de jet liquide (1.34 Å) se situe entre les longueurs d’onde des rayonnements X classiques au cuivre (1.54 Å) et au molybdène (0.71 Å), ce qui permet d’analyser aussi bien des molécules organiques que des complexes organométalliques avec des tailles et des complexités variées.

Bruker Smart IMuS/APEX2

Cet appareil est basé sur une plateforme à 3 cercles et comprend un détecteur avec caméra CCD, une source à très haute intensité du type Microsource MX qui délivre un faisceau dont la longueur d'onde est issue d'une anode au cuivre (1.54 Å). L'instrument est pourvu d'un système de refroidissement à azote liquide pour les mesures en basses températures et le détecteur CCD APEX2 permet des acquisitions rapides. Cet instrument avec sa source au cuivre est adapté pour la mesure de petits cristaux de molécules organiques et pour la détermination des structures absolues.

D8/Advance

Cet instrument mesure les diagrammes de diffraction des rayons X sur des échantillons polycristallins. Il est utilisé pour les mesures de routine lorsque l'on dispose d'une bonne quantité d'échantillons. Il inclut un passeur automatique d'échantillons.

D8/Discover

Cet instrument inclut un détecteur bidimensionnel à gaz Xe/méthane (HI-STAR) et une plateforme mobile XYZ avec un alignement laser du faisceau de rayons X incident sur la zone de l'échantillon à analyser.

La géométrie est du type thêta/thêta, avec rotation du détecteur et de la source de rayons X. L'instrument peut être configuré pour travailler en réflexion ou en transmission.

Il est possible de mesurer des échantillons disponibles en faible quantité (de la taille de quelques micromètres) en utilisant une optique spéciale.

La motorisation de la plateforme XYZ permet de faire des mesures en séquences sur des plaquettes contenant plusieurs échantillons. On peut également analyser la surface d'un échantillon massif en mesurant la diffraction en plusieurs points de celui-ci (pour en étudier la texture, par exemple).

^a Les clients universitaires non associés à l'UdeM paient les mêmes frais qu'à l'interne, mais l'Université annexe des frais d'administration de 15 % à tout paiement venant de l'extérieur. Ceux-ci sont inclus dans les montants indiqués au tableau.

^b Une collecte rapide est une collecte de données de moins d'une heure, qui permet (en général) de résoudre la structure, mais qui ne donne pas des données suffisantes pour une publication. Si le cristal n'est pas le produit souhaité, on peut alors tout de suite terminer l'expérience. Cette possibilité a été introduite pour des utilisateurs autonomes en 2012.

^a Les clients universitaires non associés à l'UdeM paient les mêmes frais qu'à l'interne, mais l'Université annexe des frais d'administration de 15 % à tout paiement venant de l'extérieur. Ceux-ci sont inclus dans les montants indiqués au tableau.

^b Une collecte rapide est une collecte de données de moins d'une heure, qui permet (en général) de résoudre la structure, mais qui ne donne pas des données suffisantes pour une publication. Si le cristal n'est pas le produit souhaité, on peut alors tout de suite terminer l'expérience. Cette possibilité a été introduite pour des utilisateurs autonomes en 2012.