Laboratoire de diffraction des rayons X

Le Laboratoire de diffraction de l'Université de Montréal offre aux équipes de recherche de l'UdeM un service d'analyse aux rayons X d'échantillons et de détermination structurale. Les services sont aussi accessibles aux autres universités, laboratoires universitaires extérieurs ou compagnies privées.

Services du laboratoire

Vous trouverez ci-dessous des listes non exhaustives de services fournis par le Laboratoire.

Diffraction générale

  • Analyse et identification par diffraction d'échantillons polycristallins
  • Analyse par diffraction de films ou de fibres en réflexion ou transmission
  • Diffraction/diffusion aux petits angles
  • Analyse par diffraction avec températures variables pour l'étude de transformation, de dé-solvatation ou de transitions de phases
  • Microdiffraction, analyse d'échantillon en 2D avec possibilité de cartographie

Analyse sur monocristaux

  • Sélection et tri des cristaux.
  • Test de diffraction sur monocristaux.
  • Montage de cristaux pour étude de diffraction, incluant les cristaux instables et/ou sensibles à l'air
  • Détermination des paramètres de maille cristalline, du système cristallin et du groupe d'espace
  • Indexation des faces d'un cristal
  • Détermination structurale complète à température ambiante ou à basse température.
  • Analyse des structures incluant les données géométriques (liaisons, angles, torsions) et rapport avec représentation " ORTEP " et contenu de la maille

Procédure

Pour faire une demande préalable de diffraction sur monocristaux, utilisez le formulaire en ligne ou faites-nous parvenir par courriel un formulaire de demande dûment rempli.

Veuillez communiquer avec le responsable du Laboratoire afin de prendre rendez-vous ou d'obtenir une estimation des coûts.

Notez que la demande d'analyse ne sera considérée qu'après un examen optique sous microscope polarisant de la qualité des échantillons.

 

Pour les envois d'échantillons par la poste ou messagerie privée:

Laboratoire de diffraction des rayons X - a/s de Thierry Maris

Université de Montréal

Pavillon J.-Armand Bombardier

Local 3055

5155 rue Decelles H3T 2B1

Montréal, Qc. Canada

 

 

 

Instruments

Le laboratoire dispose de deux instruments pour l'analyse des monocristaux, de deux diffractomètres  pour les analyses de diffraction sur poudre et échantillons polycristallin, ainsi qu'un système  pour des mesures de diffusion aux petits angles (SAXS).

Diffractomètres pour l'analyse des monocristaux

Bruker Venture Metaljet

Avec sa source à jet de métal liquide, cet instrument fournit une très grande brillance et permet la mesure sur de très petits cristaux en des temps très rapides. On peut ainsi obtenir une première visualisation de la structure 3D complète d’une molécule en moins de dix minutes à partir de données collectées sur un cristal dont la dimension moyenne est inférieure à 0.1 mm. Premier instrument de ce type à avoir été installé, la Metaljet donne la possibilité de traiter de 2 à 6 cristaux par jours. La longueur d’onde de l’alliage à base de Gallium utilisé pour l’anode de jet liquide (1.34 Å) se situe entre les longueurs d’onde des rayonnements X classiques au cuivre (1.54 Å) et au molybdène (0.71 Å), ce qui permet d’analyser aussi bien des molécules organiques que des complexes organométalliques avec des tailles et des complexités variées.

 

Bruker Smart IMuS/APEX2

Cet appareil est basé sur une plateforme à 3 cercles et comprend un détecteur avec caméra CCD, une source à très haute intensité du type Microsource MX qui délivre un faisceau dont la longueur d'onde est issue d'une anode au cuivre (1.54 Å). L'instrument est pourvu d'un système de refroidissement à azote liquide pour les mesures en basses températures et le détecteur CCD APEX2 permet des acquisitions rapides. Cet instrument avec sa source au cuivre est adapté pour la mesure de petits cristaux de molécules organiques et pour la détermination des structures absolues.

Diffractomètres pour l'analyse des poudres

D8/Advance

Cet instrument mesure les diagrammes de diffraction des rayons X sur des échantillons polycristallins. Il est utilisé pour les mesures de routine lorsque l'on dispose d'une bonne quantité d'échantillons. Il inclut un passeur automatique d'échantillons.

 

 

D8/Discover

Cet instrument inclut un détecteur bidimensionnel à gaz Xe/méthane (HI-STAR) et une plateforme mobile XYZ avec un alignement laser du faisceau de rayons X incident sur la zone de l'échantillon à analyser.

La géométrie est du type thêta/thêta, avec rotation du détecteur et de la source de rayons X. L'instrument peut être configuré pour travailler en réflexion ou en transmission.

Il est possible de mesurer des échantillons disponibles en faible quantité (de la taille de quelques micromètres) en utilisant une optique spéciale.

La motorisation de la plateforme XYZ permet de faire des mesures en séquences sur des plaquettes contenant plusieurs échantillons. On peut également analyser la surface d'un échantillon massif en mesurant la diffraction en plusieurs points de celui-ci (pour en étudier la texture, par exemple).

Instrument de mesure de diffusion aux petits angles (SAXS)

Tarifs

Tous les prix sont en dollars canadiens (CAD).

Études structurales sur monocristaux

Service

Université de Montréal

Universitaire externea

Industrie

Structure complète

200 $

200 $

800 $

Jour supplémentaire de collecte

20 $

20 $

n.d.

Collecte rapide et résolutionb

50 $

50 $

n.d.

Collecte des données

120 $

120 $

350 $

Utilisation autonome

70 $

70 $

n.d.

Collecte rapide autonomeb

20 $

20 $

n.d.

Formation d'utilisateur

500 $

À discuter

n.d.

a Les clients universitaires non associés à l'UdeM paient les mêmes frais qu'à l'interne, mais l'Université annexe des frais d'administration de 15 % à tout paiement venant de l'extérieur. Ceux-ci sont inclus dans les montants indiqués au tableau.

b Une collecte rapide est une collecte de données de moins d'une heure, qui permet (en général) de résoudre la structure, mais qui ne donne pas des données suffisantes pour une publication. Si le cristal n'est pas le produit souhaité, on peut alors tout de suite terminer l'expérience. Cette possibilité a été introduite pour des utilisateurs autonomes en 2012.

Diagrammes de diffraction

Service

Université de Montréal

Universitaire externea

Industrie

Enregistrement d'un diagramme de diffraction, recherche dans la base de données PDF, identification de produit, rapport sommaire

30 $

30 $

130 $

Indexation du diagramme et recherche de la maille cristalline

100 $

100 $

200 $

Rapport plus détaillé, évaluation d'un taux de cristallinité

130 $

130 $

230 $

Expériences à température variable (prix total pour mesures à plusieurs températures)

60 $

60 $

100 $

Étude cinétique, diffraction résolue en temps réel

60 $

60 $

100 $

Autres services

 

Université de Montréal

Académique externea

Industrie

Recherche avancée dans la base de données de Cambridge

100 $

100 $

200 $

Formation utilisateurs (appareils)

150 $

300 $

À discuter

Aide pour les publications (figures, numérotation, etc.)

100 $

100 $

À discuter

a Les clients universitaires non associés à l'UdeM paient les mêmes frais qu'à l'interne, mais l'Université annexe des frais d'administration de 15 % à tout paiement venant de l'extérieur. Ceux-ci sont inclus dans les montants indiqués au tableau.

b Une collecte rapide est une collecte de données de moins d'une heure, qui permet (en général) de résoudre la structure, mais qui ne donne pas des données suffisantes pour une publication. Si le cristal n'est pas le produit souhaité, on peut alors tout de suite terminer l'expérience. Cette possibilité a été introduite pour des utilisateurs autonomes en 2012.